2020电子行业(半导体器件)标准项目计划表

时间:2020-11-10  来源:工信部   点击:
2020电子行业(半导体器件)标准项目计划表
2020电子行业半导体器件标准项目计划表
序号 申报号 项目名称 性质 制修 代替标准 采标情况 完成 部内主管司局 技术委员会或 主要起草单位 备注
年限 技术归口单位
1.      GSJCPZT0141-2020 车辆集成电路电磁兼容试验通用规范 推荐 制定     2022 电子信息司 全国半导体器件标准化技术委员会 中国电子技术标准化研究院、中国汽车工程研究院股份有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、天津市滨海新区军民融合创新研究院、中国汽车技术研究中心有限公司、广州致远电子有限公司、浙江诺益科技有限公司、北京邮电大学、南京信息工程大学、南京师范大学、安徽省计量科学研究院等  
2.      GSJCPZT0142-2020 集成电路 电磁发射测量 第3部分:辐射发射测量 表面扫描法 推荐 制定   IEC TS 61967-3:2014,IDT 2022 电子信息司 全国半导体器件标准化技术委员会 中国电子技术标准化研究院、中国汽车工程研究院股份有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、天津市滨海新区军民融合创新研究院、中国汽车技术研究中心有限公司、广州致远电子有限公司、浙江诺益科技有限公司、北京邮电大学、南京信息工程大学、南京师范大学、安徽省计量科学研究院等  
3.      GSJCPZT0143-2020 集成电路 电磁发射测量 第5部分:传导发射测量 工作台法拉第笼法 推荐 制定   IEC 61967-5:2003,IDT 2022 电子信息司 全国半导体器件标准化技术委员会 中国电子技术标准化研究院、中国汽车工程研究院股份有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、天津市滨海新区军民融合创新研究院、中国汽车技术研究中心有限公司、广州致远电子有限公司、浙江诺益科技有限公司、北京邮电大学、南京信息工程大学、南京师范大学、安徽省计量科学研究院等  
4.      GSJCPZT0144-2020 集成电路 电磁发射测量 第6部分:传导发射测量 磁场探头法 推荐 制定   IEC 61967-6:2008,IDT 2022 电子信息司 全国半导体器件标准化技术委员会 中国电子技术标准化研究院、中国汽车工程研究院股份有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、天津市滨海新区军民融合创新研究院、中国汽车技术研究中心有限公司、广州致远电子有限公司、浙江诺益科技有限公司、北京邮电大学、南京信息工程大学、南京师范大学、安徽省计量科学研究院等  
5.      GSJCPZT0145-2020 集成电路 电磁发射测量 第8部分:辐射发射测量 带状线法 推荐 制定   IEC 61967-8:2011,IDT 2022 电子信息司 全国半导体器件标准化技术委员会 中国电子技术标准化研究院、中国汽车工程研究院股份有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、天津市滨海新区军民融合创新研究院、中国汽车技术研究中心有限公司、广州致远电子有限公司、浙江诺益科技有限公司、北京邮电大学、南京信息工程大学、南京师范大学、安徽省计量科学研究院等  
6.      GSJCPZT0146-2020 集成电路 电磁抗扰度测量 第3部分:大电流注入(BCI)法 推荐 制定   IEC 62132-3:2007,IDT 2022 电子信息司 全国半导体器件标准化技术委员会 中国电子技术标准化研究院、中国汽车工程研究院股份有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、天津市滨海新区军民融合创新研究院、中国汽车技术研究中心有限公司、广州致远电子有限公司、浙江诺益科技有限公司、北京邮电大学、南京信息工程大学、南京师范大学、安徽省计量科学研究院等  
7.      GSJCPZT0147-2020 集成电路 电磁抗扰度测量 第5部分:工作台法拉第笼法 推荐 制定   IEC 62132-5:2005,IDT 2022 电子信息司 全国半导体器件标准化技术委员会 中国电子技术标准化研究院、中国汽车工程研究院股份有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、天津市滨海新区军民融合创新研究院、中国汽车技术研究中心有限公司、广州致远电子有限公司、浙江诺益科技有限公司、北京邮电大学、南京信息工程大学、南京师范大学、安徽省计量科学研究院等  
8.      GSJCPZT0148-2020 集成电路 电磁抗扰度测量 第9部分:辐射抗扰度测量 表面扫描法 推荐 制定   IEC TS 62132-9:2014,IDT 2022 电子信息司 全国半导体器件标准化技术委员会 中国电子技术标准化研究院、中国汽车工程研究院股份有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、天津市滨海新区军民融合创新研究院、中国汽车技术研究中心有限公司、广州致远电子有限公司、浙江诺益科技有限公司、北京邮电大学、南京信息工程大学、南京师范大学、安徽省计量科学研究院等  
9.      GSJCPZT0149-2020 半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第1部分:缺陷分类 推荐 制定   IEC 63068-1:2019,IDT 2022 电子信息司 全国半导体器件标准化技术委员会 中国电子科技集团公司第十三研究所、之江实验室、浙江大学  
10.    GSJCPZT0150-2020 半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第2部分:缺陷的光学检测方法 推荐 制定   IEC 63068-2:2019,IDT 2022 电子信息司 全国半导体器件标准化技术委员会 中国电子科技集团公司第十三研究所、之江实验室、浙江大学  
11.    GSJCPZT0151-2020 半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第3部分:缺陷的光致发光检测方法 推荐 制定   IEC 63068-3:2020,IDT 2022 电子信息司 全国半导体器件标准化技术委员会 中国电子科技集团公司第十三研究所、之江实验室、浙江大学  
12.    GSJCPZT0152-2020 半导体器件 MEMS器件 第20部分:陀螺仪 推荐 制定   IEC 62047-20,IDT 2022 电子信息司 中国电子技术标准化研究院 中国电子技术标准化研究院、河北半导体研究所、北京大学、国家智能传感器创新中心  

 

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